EN 60749-40-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变仪的板级跌落试验方法(IEC60749-40-2011).德文版本EN60749-40-2011
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part40:Boardleveldroptestmethodusingastraingauge(IEC60749-40:2011);GermanversionEN60749-40:2011
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变仪的板级跌落试验方法(IEC60749-40-2011).德文版本EN60749-40-2011
【标准号】:EN60749-40-2011
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2012-02
【实施或试行日期】:2012-02-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Definitions;Droptests;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Errordetection;Heightoffall;Integratedcircuits;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Parameters;Powerelectronics;Printed-circuitboards;Qualityassurance;Reliability;Resistancestraingauges;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Specimens;Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:23P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变仪的板级跌落试验方法(IEC60749-40-2011).德文版本EN60749-40-2011
【标准号】:EN60749-40-2011
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2012-02
【实施或试行日期】:2012-02-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Definitions;Droptests;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Errordetection;Heightoffall;Integratedcircuits;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Parameters;Powerelectronics;Printed-circuitboards;Qualityassurance;Reliability;Resistancestraingauges;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Specimens;Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:23P;A4
【正文语种】:英语
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