IEC 60747-8-2000 半导体装置.第8部分:场效应晶体管
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时间:2024-05-17 11:51:46
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Part8:Field-effecttransistors
【原文标准名称】:半导体装置.第8部分:场效应晶体管
【标准号】:IEC60747-8-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;额定值;极限(数学);电子工程;符号;作标记;电气工程;测量技术;规范(验收);组件;屏障层;晶体管;场效应晶体管;绝缘层;电子设备及元件;半导体;分立器件;电气工程;检验;大门;集成电路;半导体器件;定义;元部件
【英文主题词】:Barrierslayers;Components;Definition;Definitions;Discretedevices;Draincurrent;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Field-effecttransistors;Gates;Inspection;Insulatinglayers;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Symbols;Transistors
【摘要】:ThispartofIEC60747givesstandardsforthefollowingcategoriesoffield-effecttransistors:-typeA:junction-gatetype;-typeB:insulated-gatedepletiontype;-typeC:insulated-gateenhancementtype.
【中国标准分类号】:L44
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:135P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体装置.第8部分:场效应晶体管
【标准号】:IEC60747-8-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;额定值;极限(数学);电子工程;符号;作标记;电气工程;测量技术;规范(验收);组件;屏障层;晶体管;场效应晶体管;绝缘层;电子设备及元件;半导体;分立器件;电气工程;检验;大门;集成电路;半导体器件;定义;元部件
【英文主题词】:Barrierslayers;Components;Definition;Definitions;Discretedevices;Draincurrent;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Field-effecttransistors;Gates;Inspection;Insulatinglayers;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Symbols;Transistors
【摘要】:ThispartofIEC60747givesstandardsforthefollowingcategoriesoffield-effecttransistors:-typeA:junction-gatetype;-typeB:insulated-gatedepletiontype;-typeC:insulated-gateenhancementtype.
【中国标准分类号】:L44
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:135P.;A4
【正文语种】:英语
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