JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜 试验方法
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时间:2024-05-16 01:42:58
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基本信息
| 标准名称： | 扫描电子显微镜 试验方法 |
| 中标分类： | 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 电子光学与其他物理光学仪器 |
| 替代情况： | ZB Y340-85 |
| 发布部门： | 中华人民共和国机械工业部 |
| 发布日期： | 1993-07-09 |
| 实施日期： | 1994-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 提出单位： | 上海电子光学技术研究所 |
| 归口单位： | 上海电子光学技术研究所 |
| 起草单位： | 上海电子光学技术研究所 |
| 出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版日期： | 1994-01-01 |
| 页数： | 11页 |
| 批文号： | 机械科[1993]317号 |
适用范围
本标准规定了扫描电子显微镜的试验方法。本标准适用于扫描电镜主机性能的试验。
前言
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目录
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所属分类： 仪器 仪表 光学仪器 电子光学与其他物理光学仪器
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